Chroma 19501-K局部放電測試器內建交流耐電壓測試(Hipot Test)與局部放電(PartialDischarge,PD)偵測功能于一單機，提供交流電壓輸出0.1kV~10kV,漏電流測量范圍0.01μA~300μA,局部放電偵測范圍1pC~2000pC,針對高壓半導體元件與高絕緣材料測試應用所設計與開發。